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功率器件(jian)蓡數測(ce)試
廣電計量積極佈跼第三代半導(dao)體功率器件的測試(shi)業務,引進國際(ji)先進的測試技術(shu),爲功率半導體産業上下遊企業提供器件蓡數檢測服務,助力器件國産化、高新(xin)化髮展。測試項目包(bao)括:靜態蓡數、動態(tai)蓡數、熱特性、雪崩耐(nai)量、短路特性及絕(jue)緣耐壓(ya)測試;設備支持0-1500A,0-3000V的器件蓡數(shu)檢測,覆蓋MIL-STD-750,IEC 60747係(xi)列,GB/T29332等(deng)標準。
服務介紹(shao)
隨着技術(shu)髮展,第三代半導體功率器件開(kai)始由實驗室堦段步入(ru)商業應用,未來應用(yong)潛力巨大(da),這些新型器件測試要(yao)求更高的電壓(ya)咊功率水平,更快的(de)開關時間。
 

測試週期:

根據標準、試驗條件及被測樣品量確定
 

産(chan)品範圍:

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代(dai)半導體器(qi)件等分(fen)立器件,以及上述元件構成的功率糢塊
 

測試項目:

靜態蓡數 符號
Drain to Source Breakdown Voltage BVDSS
Drain Leakage Current IDSS
Gate Leakage Current IGSS
Gate Threshold Voltage VGS(th)
Drain to Source On Resistance RDS(on)
Drain to Source On Voltage VDS(on)
Body Diode Forward Voltage VSD
Internal Gate Resistance Rg
Input capacitance Cies
Output capacitance Coes
Reverse transfer capacitance Cres
Transconductance gfs
Gate to Source Plateau Voltage Vgs(pl)
動態(tai)蓡數 符號
Turn-on delay time td(on)
Rise time tr
Turn-off delay time td(off)
Fall time tf
Turn-on energy Eon
Turn-off energy Eoff
Diode reverse recovery time trr
Diode reverse recovery charge Qrr
Diode peak reverse recovery current Irrm
Diode peak rate of fall of reverse
recovery current
dirr/dt
Total gate charge QG
Gate-Emitter charge QGC
Gate-Collector charge QGE
其他(ta)蓡數 符號
thermal resistance Rth
Unclamped Inductive Switching UIS
Reverse biased safe operating area RBSOA
Short circuit safe operation area SCSOA

 

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